X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機(jī)的全面自動化控制，
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI900主要技術(shù)規(guī)格如下：
No. 主要規(guī)格
1X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng):根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、 多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng):最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使 用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用 0.3mm準(zhǔn)直器)
5X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動 控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制