相對(duì)其他探測(cè)器，Rigaku新的D/teX Ultra 250 silicon strip探測(cè)器減少了近50%的數(shù)據(jù)采集時(shí)間。通過增加孔徑有效面積提高了整體的計(jì)數(shù)率、探測(cè)器的覆蓋角，達(dá)到省時(shí)的效果。通過低能歧視和次要單色儀的獨(dú)一無二結(jié)合，該探測(cè)器獲得了非常好的能量分辨率、x射線熒光 (XRF)抑制。
Rigaku公司推出的D/teX Ultra 250 1D檢測(cè)器是公司持續(xù)努力減少x射線衍射(XRD)數(shù)據(jù)采集時(shí)間的一個(gè)成果，大幅提高了儀器的通量等性能。新silicon strip探測(cè)器可以用于Rigaku頂級(jí)的，以創(chuàng)新指導(dǎo)軟件、自動(dòng)校準(zhǔn)、CBO光學(xué)聞名的Smartlab衍射系統(tǒng)。D/teX Ultra 250相對(duì)于之前的探測(cè)器有很多改進(jìn)，包括一個(gè)較小的像素尺寸 (0.075 mm versus 0.10 mm)提高了分辨率，增加長(zhǎng)度提高了計(jì)數(shù)率和覆蓋角，一個(gè)獨(dú)特的XRF抑制配置使得能量分辨率更加優(yōu)秀。
