XLE-3型大平臺檢測顯微鏡

XLE-3型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路、晶片的質(zhì)量檢測而設(shè)計開發(fā)制造的。

正置式，三目鏡筒，比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監(jiān)視器可直接觀察?？蛇B接計算機打印報告、照片或連接數(shù)碼相機，照相機直接拍攝，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術(shù)檢測檔案，存儲，查詢，可省去復(fù)雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大提高了工作效率。

1）  放大倍數(shù)：40倍至500倍

超大型載物臺，可做大范圍的縱橫方向快、慢速移動，擴大檢測領(lǐng)域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術(shù)檢驗，實效分析等。