26MGXTDL超聲波測厚儀/美國泛美26MGXTDL超聲波測厚儀的詳細說明 

     

26MG超聲波測厚儀技術(shù)資料

·測量腐蝕金屬理想的便攜式測厚儀
·使用雙晶探頭 ,從被測物的一面就可以測量
·測量腐蝕 ,有凹痕,被氧化或呈粒狀等物體的厚度 
26MGXTDL技術(shù)規(guī)格  
型號 26MG 26MG－XT 26XTDL 
顯示屏 液晶顯示45×20mm 
測量范圍 0.5～500mm 
頻率范圍  1MHZ ～15MHZ (-3dB) 
聲速范圍 0.762～13,999mm/μsec 
顯示精度 0.1/0.01mm 
存儲裝置  無  無  8000組厚度值 
增益閘門  無  高/低任選  高/低任選 
差分測量 
 無  有 有 
高低報警 無  有  有 
背光  自動/手動(任選) 
工作溫度 -10～50℃ 
測量溫度 -20～500℃ 
探頭種類 雙晶/自動識別 
RS232接口 選件  選件  有 
電池 AA 5＃電池×2 工作250小時 
外型尺寸 64.8 × 128.5 × 29mm 
重量 0.24Kg  

 

26MGXTDL超聲波測厚儀的品牌：美國泛美

26MGXTDL超聲波測厚儀的型號:26MGXTDL

26MGXTDL超聲波測厚儀的產(chǎn)地:美國

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