JW-K型氮吸附比表面及孔徑分布測(cè)試儀
    JW-K型集孔徑分布測(cè)定、BET及直接對(duì)比法比表面積測(cè)定于一體，JW-K是基于動(dòng)態(tài)常壓氮吸附法實(shí)現(xiàn)介孔范圍的精確測(cè)定，是本公司在動(dòng)態(tài)氮吸附儀領(lǐng)域的重大突破。
技術(shù)參數(shù)
原理方法：動(dòng)態(tài)氮吸附法
功    能：直接對(duì)比法快速比表面測(cè)定
          BET比表面測(cè)定
　　　    Langmuir比表面測(cè)定
　　　    碳黑外比表面測(cè)定
　　　    等溫脫附曲線測(cè)定
　　　    BJH孔徑分布測(cè)定（包括微分及積分分布）
　　　    總孔體積和平均孔徑測(cè)定
測(cè)試氣體：高純氦氣（載氣）、高純氮?dú)?br>樣品數(shù)量：２～4個(gè)
測(cè)試速度：直接對(duì)比法，平均每個(gè)樣品5分鐘
　        BET法，平均每個(gè)樣品30分鐘
　        孔徑分布測(cè)定平均3～5小時(shí)
測(cè)試范圍：比表面　≥0.01M2/g , 無(wú)規(guī)定上限
　        孔徑　?。病?00ｎｍ
測(cè)試精度：≤±2%
運(yùn)行方式：半自動(dòng)或全自動(dòng)
主機(jī)尺寸：50×35×59（㎝）       
主機(jī)重量：33㎏
產(chǎn)品特點(diǎn)
 自主研發(fā)，國(guó)內(nèi)外首創(chuàng)
 多重功能，可靈活轉(zhuǎn)換；
 氮分壓精確控制，國(guó)內(nèi)領(lǐng)先；
 獨(dú)特的技術(shù)，保證了測(cè)試精度；
 先進(jìn)的熱導(dǎo)池自動(dòng)保護(hù)系統(tǒng)；
 高氮分壓區(qū)域測(cè)試信號(hào)的自動(dòng)補(bǔ)償技術(shù)；
 軟件功能齊全、操作簡(jiǎn)便，測(cè)試過(guò)程實(shí)時(shí)顯示，測(cè)試結(jié)果同步展現(xiàn)；
 隨機(jī)提供JW-樣品真空預(yù)處理機(jī)；