科電HCH-3000E/E超聲波測厚儀
一、概述
超聲波測厚儀HCH-30000E/E可有效穿透涂層對(duì)基體進(jìn)行測厚，該款儀器是科電公司經(jīng)過半年的努力自主研發(fā)推出的新品。HCH-3000E/E采用了單片機(jī)與CPLD綜合系統(tǒng)的全新技術(shù)，集發(fā)射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測厚儀。它具有輕便且符合人體工程學(xué)的單手操作設(shè)計(jì)，為許多需要對(duì)疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進(jìn)行的快速檢測應(yīng)用，提供了性價(jià)比極高的測量解決方案。

二、產(chǎn)品性能
儀器描述：
發(fā)射-回波模式：標(biāo)準(zhǔn)測量，用于普通的厚度測量。這種模式具有寬泛的測厚范圍：0.8—500mm（根據(jù)具體探頭）；
回波-回波模式：能夠穿透涂層直接對(duì)基體測厚，無需耗費(fèi)時(shí)間和費(fèi)用去除涂層后再測量；測厚范圍：3.0—20mm；（使用E_E10探頭時(shí)）
厚度顯示分辨率：0.01mm（測量小于100mm）、0.1mm （測量大于100mm）
探頭零位：自動(dòng)探頭零位調(diào)整以滿足眾多探頭在不同的測試條件下的最佳參數(shù)設(shè)置，能夠有效的避免由于探頭的磨損或者溫度變化等因素對(duì)測量結(jié)果產(chǎn)生的影響；
自動(dòng)靈敏度增益優(yōu)化，可根據(jù)工作模式自動(dòng)調(diào)節(jié)靈敏度，以得到更加精確的測量結(jié)果；
探頭自動(dòng)識(shí)別，可選多種原廠探頭，每次開機(jī)自動(dòng)識(shí)別探頭；根據(jù)探頭自動(dòng)條調(diào)整靈敏度，自動(dòng)探頭零位調(diào)整；
最小值掃描模式，每秒10次，快速測量并捕捉最小值；
上下限報(bào)警模式：可設(shè)置上下限報(bào)警閥值，當(dāng)測量厚度超過閥值時(shí)，則給出報(bào)警信號(hào)；
差值模式：測量的厚度與設(shè)置的基值進(jìn)行比較，并在屏幕上將差值顯示出來；
數(shù)據(jù)分組化管理，一共分6組，每組都可存儲(chǔ)100個(gè)數(shù)據(jù)。用戶可根據(jù)自己的需要來選擇組號(hào)和數(shù)據(jù)號(hào)作為目標(biāo)存儲(chǔ)地址或者查看測量數(shù)據(jù)。也可以刪除某一個(gè)數(shù)據(jù)，或某一組數(shù)據(jù)，或者全部的數(shù)據(jù)。
打印輸出，與PC通信，可將測量報(bào)告直接送至打印機(jī)輸出也可傳輸至電腦上顯示出來；
聲速范圍：1000-9999m/s,儀器內(nèi)置了10種常見材料的聲速，供用戶直接選擇；
反測聲速：可根據(jù)已知材料的厚度反測出材料的聲速；
毫米/英寸選擇；
探頭頻率：2mhz-10mhz；
顯示方式：12864點(diǎn)陣液晶（帶背光）；
存儲(chǔ)方式：手動(dòng)存儲(chǔ)方式；
可設(shè)置關(guān)機(jī)方式，背光開或者關(guān)；如果系統(tǒng)紊亂，可恢復(fù)出廠設(shè)置；
電源：兩節(jié)五號(hào)電池；
鍵盤：6鍵防塵，防油鍵盤。  

三、HCH-3000E/E回波-回波超聲波測厚儀配置單
配置單：
主機(jī)、E-E10探頭、藕合劑 、說明書 、保修卡、合格證 、5號(hào)電池、手提箱。
可選配件：
打印機(jī)及通訊打印連線一套、微機(jī)通訊軟件一個(gè)、階梯試塊、高溫探頭、鑄鐵探頭、小管徑探頭、高溫耦合劑等
注：E-E10 探頭只能測量帶涂層測材料，如果是沒有涂層的，建議另配探頭。
型號(hào) 頻率 測量范圍 溫度
PT-08 5.0MHz 1.5—300mm -12 ~ +60℃
PT-06 7.5MHz 1—130mm -12 ~ +60℃
PT-04 10MHz 1—40mm -12 ~ +60℃
PT-10 5MHz 1.0—250mm -12 ~ +60℃
GT-12 3MHz 1.5—300mm -12 ~ +450℃
ZT-12 2MHz 3—500mm -12 ~ +60℃
E-E10 5.0MHZ 3—20mm -12 ~ +60℃
根據(jù)實(shí)測體的厚度及形狀來選擇探頭：

PT-08：常規(guī)探頭，多種情況下均可選擇此探頭，主要用于測量表面為平面或者有較大弧度的物體。
PT-06：主要用于測量薄壁以及小弧面的物體。
PT-04：主要用于測量凹坑或者表面較小的物體。
PT-10：測厚探頭：主要用于測量表面為平面厚度值較大的材料；以及表面積較大的平板材料。
GT-12：用于測量物體溫度低于450℃ 的場合，測量時(shí)探頭與被測高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。
ZT-12：主要用來測量鑄鐵等粗晶材質(zhì)的物體，以及面積較大的平板材料。
E-E10：回波到回波的專用探頭